상하악 및 바이트 임프레션 스캔하기

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1. 치식, 옵션, 노트 등을 작성하여 폼 정보를 입력한 뒤 [저장 및 스캔]을 클릭합니다.

2. 스캔 전략을 입력하고 [확인]을 클릭합니다.

  • 스캔 모델 유형 > 임프레션
  • 임프레션 유형 > Metal & Bite T (T: tray)
  • 3축 암 옵션 > On

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3. 스캔할 모델을 스캐너에 장착하고 스캔 영역을 조정한 후, 스캔을 시작합니다.

  • 3축 암 연결부 커버를 수동으로 열고 3축 암을 스캐너에 장착합니다.

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4. 임프레션 스캔이 완료되었습니다.

  • 스캔 데이터를 확인하여 부족한 영역은 추가 스캔을 진행합니다.
  • 바이트 임프레션은 교합에만 사용되므로 추가 스캔을 최소화할 것을 권장합니다.

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5. 상악 임프레션을 스캔합니다.

  • 스캔 데이터를 확인하여 부족한 영역은 추가 스캔을 진행합니다.

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6. 하악 임프레션을 스캔합니다.

  • 스캔 데이터를 확인하여 부족한 영역은 추가 스캔을 진행합니다.

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7. 상악 임프레션과 바이트를 수동 정렬합니다.

  • 1점 또는 3점 정렬을 사용할 수 있습니다.
  • 상악 임프레션과 바이트에 각각 정렬점을 표시합니다.

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8. 하악 임프레션과 바이트를 수동 정렬합니다.

  • 1점 또는 3점 정렬을 사용할 수 있습니다.
  • 하악 임프레션과 바이트에 각각 정렬점을 표시합니다.

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9. 모든 스캔 데이터가 정렬되었습니다. 교합 위치를 다음의 방법으로 조정할 수 있습니다.

  • Alt 키를 누르고 마우스 드래그: 상악을 움직이지 않고 위치 조정계의 방향과 위치 조정이 가능합니다.
  • Ctrl 키를 누그로 마우스 드래그: 상악 데이터를 천천히 움직여 미세 조정할 수 있습니다.
  • 먼저, 조정계 위치를 설정한 후, 상악을 미세 조정할 것을 권장합니다.

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10. 편집 모드를 사용하여 불필요한 영역을 선택한 후 삭제합니다. [다음]을 클릭하여 병합을 진행합니다.

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11. 병합 완료 후 결과를 확인하고, [Exit]을 눌러 데이터 저장 및 종료합니다.

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관련 문서